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電子天平天平0-200g型號：DP/JA2004大屏幕液晶顯示，人性化，結(jié)構(gòu)新穎，外形美觀，性能。新代電磁式稱量傳感器，使產(chǎn)品的度有了可靠保障。具有自動故障檢測，自動校準，載保護等多種應(yīng)用程序，設(shè)有計件、百分比、單位轉(zhuǎn)換等能，操作簡單、可靠。內(nèi)置RS-232C接口，可直接連接計算機、打印機等。型號Model名稱Description參數(shù)TechnicalData秤盤尺寸PansizeDP/JA2104電子分析天平210g/0.1mmΦ80mmDP/JA2004電子分析...

便攜式筆記本渦流探傷儀渦流探傷儀便攜式渦流探傷儀型號：DP-21儀器主要性能?儀器帶電時間：6小時?頻率范圍：10Hz～20MHz?增益：0～99dB，步長0.1dB?相位旋轉(zhuǎn)：0~360°步1°?增益比（Y/X）：0.1~10?探傷速度zui500米／分?內(nèi)、外時鐘控制的同步報警輸出?度端頭、端尾信號切除能?度實時、延時報警輸出?非等幅相位／幅度報警域?電腦數(shù)字式參數(shù)調(diào)整?可分別驅(qū)動不同形式的檢測探頭?硬盤存貯與重現(xiàn)檢測信號?快速數(shù)字／模擬電子平衡?具有記憶軌跡延遲消隱能?...

自動測色色差計(通用型)/測色色差計/通用色差計型號：DP-SCJ儀器測量顯示1、測量物體顏色值：(CIEX、Y、Z三刺激值，Yxy色度值，L*a*b*色度空間，Lab色度空間)；2、測量物體顏色色差：（△E、△L、△a、△b）；3、測量白度W：(本儀器具有目前內(nèi)各行業(yè)的白度公式,是目前內(nèi)表達白度公式zui多的儀器，包括藍光白度R457、亨特白度、甘茨白度、建材白度、白水泥白度、日用陶瓷白度等)；4、黃度系數(shù)Yi；5、色彩度C及色調(diào)角H；6、紡織品粘色牢度SSR和變色牢度GS...

自動測色色差計(實用型)/測色色差計型號：DP-SCTY儀器測量顯示1、測量物體顏色值：(CIEX、Y、Z三刺激值，Yxy色度值，L*a*b*色度空間，Lab色度空間)；2、測量物體顏色色差：（△E、△L、△a、△b）；3、測量白度W：(本儀器具有目前內(nèi)各行業(yè)的白度公式,是目前內(nèi)表達白度公式zui多的儀器，包括藍光白度R457、亨特白度、甘茨白度、建材白度、白水泥白度、日用陶瓷白度等)；4、黃度系數(shù)Yi；5、色彩度C及色調(diào)角H；6、紡織品粘色牢度SSR和變色牢度GS。7、對比...

自動測色色差計(經(jīng)濟型)/測色色差計型號：DP-SCJJ儀器測量顯示1、測量物體顏色值：(CIEX、Y、Z三刺激值，Yxy色度值，L*a*b*色度空間，Lab色度空間)；2、測量物體顏色色差：（△E、△L、△a、△b）；3、測量白度W：(本儀器具有目前內(nèi)各行業(yè)的白度公式,是目前內(nèi)表達白度公式zui多的儀器，包括藍光白度R457、亨特白度、甘茨白度、建材白度、白水泥白度、日用陶瓷白度等)；4、黃度系數(shù)Yi；5、色彩度C及色調(diào)角H；6、紡織品粘色牢度SSR和變色牢度GS。7、對比...

容重器/糧食容重器型號：DP-HGT-1000容重器/糧食容重器概述：☆DP-HGT-1000系列容重器是評定糧食等級的儀器，是家糧食儲備局認可產(chǎn)品。☆DP-HGT-1000型容重器適用于小顆粒糧食的檢測定等（如小麥類）☆HA-HGT-1000A容重器適用于大、小顆粒糧食的檢測定等（如用直徑為40mm的斗門）孔徑的谷物筒可檢測豆類、玉米類糧食的定等。用直徑為30mm斗門孔徑的谷物筒可檢測小麥類糧食的定等）。容重器/糧食容重器應(yīng)用范圍：本產(chǎn)品廣泛用于糧食出口岸、儲運、商檢及。容...

四探針電阻率測試儀/四探針電阻率儀/方阻測試儀/方阻儀/四探針電阻率測定儀（自動測試臺+帶軟件）型號：DP-KDY-1四探針電阻率/方阻測試儀（以下簡稱電阻率測試儀）是用來測量半導體材料（主要是硅單晶、鍺單晶、硅片）電阻率，以及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠方塊電阻的測量儀器。它主要由電氣測量份（簡稱：主機）、測試架及四探針頭組成。本儀器的特點是主機配置雙數(shù)字表，在測量電阻率的同時，另塊數(shù)字表（以分之幾的度）適時監(jiān)測程的電流變化，免除了測量電流/測量電阻率的轉(zhuǎn)換，更...

低阻型四探針檢測儀/方阻儀/四探針電阻率檢測儀型號;DP-KDY-1儀器采用GB/T1552-1995硅、鍺單晶電阻率測定直排四探針法（2）范圍：電阻率10-5～10+3歐姆·厘米，分辨率為10-5歐姆·厘米方塊電阻10-4～10+4歐姆/□，zui小分辨率為10-4歐姆/□（3）可測量材料：半導體材料硅鍺棒、塊、片、導電薄膜等可準確測量的半導體尺寸：直徑≥20㎜可測量的半導體尺寸：直徑≥8㎜（4）測量方式：平面測量。（5）電壓表：雙數(shù)字電壓表，可同時觀察電流、電壓變化A.量...